《集成电路测试指南》内容简介

作者通过分享自身经验，为读者提供一本以工程实践为主的集成电路测试参考书。本书分为五篇共10章节来介绍实际芯片验证及量产中半导体集成电路测试的概念和知识。第1篇由第1章和第2章组成，从测试流程和测试相关设备开始，力图使读者对于集成电路测试有一个整体的概念。第二篇由第3~5章组成，主要讲解半导体集成电路的自动测试原理。第三篇开始进入工程实践部分，本篇由第6章的集成运算放大器芯片和第7章的电源管理芯片测试原理及实现方法等内容构成。通过本篇的学习，读者可以掌握一般模拟芯片的测试方法。第四篇为数字集成电路的具体实践。我们选取了市场上应用需求量大的存储芯片（第8章）和微控制器芯片（第9章），为读者讲述其测试项目和相关测试资源的使用方法。第五篇即第10章节，使读者了解混合信号测试的实现方式，为后续的进阶打下一个坚实的基础。
本书主要的受众是想要或即将成为集成电路测试工程师的读者，我们假设读者已经学习过相应的基础课程，主要包括电路分析、模拟电子技术、数字电子技术、信号与系统、数字信号处理以及计算机程序设计语言。通过本书的学习，读者将对半导体集成电路测试有一个总体的概念，并可以掌握能直接应用到工作中的实战技术，并借此以“术”入“道”。对于已经从事半导体集成电路测试的工程技术人员、集成电路产品工程师、设计工程师，本书也具有一定的参考意义。
本书作者加速科技。

作品目录

序一
序二
序三
前言
第一篇
集成电路测试及测试系统简介
第1章：集成电路测试简介
1.1、集成电路测试的分类
1.2、IC测试项目
1.3、产品手册与测试计划
1.4、测试程序
第2章：集成电路测试系统
2.1、模拟IC测试系统
2.2、数字IC测试系统
2.3、混合IC测试系统
2.4、ST2500高性能数模混合测试系统
2.5、ST-IDE软件系统
2.6、集成电路测试工程师实训平台
第二篇
集成电路基本测试原理
第3章：直流及参数测试
3.1、开短路测试
3.2、漏电流测试
3.3、电源电流测试
3.4、直流偏置与增益测试
3.5、输出稳压测试
3.6、数字电路输入电平与输出电平测试
第4章：数字电路功能及交流参数测试
4.1、测试向量
4.2、时序的设定
4.3、引脚电平的设定
4.4、动态负载测量开短路
第5章：混合信号测试基础
5.1、时域与频域分析
5.2、采样
5.3、DAC的静态参数测试
5.4、ADC的静态参数测试
5.5、ADC/DAC的动态参数测试
第三篇
模拟集成电路测试与实践
第6章：集成运算放大器测试与实践
6.1、集成运算放大器的基本特性
6.2、集成运算放大器的特征参数测试方法
6.3、集成运算放大器测试计划及硬件资源
6.4、测试程序开发
6.5、程序调试及故障定位
6.6、测试总结
第7章：电源管理芯片测试与实践
7.1、电源管理芯片原理与基本特性
7.2、LDO特征参数测试方法
7.3、电源管理芯片测试计划及硬件资源
7.4、测试程序开发
7.5、程序调试及故障定位
7.6、测试总结
第四篇
数字集成电路测试与实践
第8章：存储器测试与实践
8.1、EEPROM原理与基本特征
8.2、EEPROM特征参数测试方法
8.3、EEPROM测试计划及硬件资源
8.4、测试程序开发
8.5、程序调试及故障定位
8.6、测试总结
第9章：MCU测试与实践
9.1、MCU原理与基本特征
9.2、MCU特征参数测试方法
9.3、MCU测试计划及硬件资源
9.4、测试程序开发
9.5、程序调试及故障定位
9.6、测试总结
第五篇
混合集成电路测试与实践
第10章：ADC测试
10.1、ADC原理及基本特征
10.2、ADC芯片特征参数及测试方法
10.3、ADC芯片测试计划及硬件资源
10.4、测试程序开发
10.5、程序调试及故障定位
10.6、测试总结
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附录
技术术语中英文对照表