《一板成功：高速电路研发与设计典型故障案例解析》内容简介

本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍，通过对电子工程设计中的实际故障案例分析，帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案，内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》适合作为从事计算机、通信设备、高端仪器制造等行业的电路设计、开发专业工程师、研究人员的技术参考书，也可以作为电子科学技术、电子工程专业高年级本科生和研究生的参考用书。
张晶威，从事电子硬件技术工作10余年，涉及计算机、通信、仪器仪表等行业，并参与多项国家级、省级系统平台建设。近年来，主要从事云平台、边缘计算、异构计算系统设计工作。

作品目录

序言FOREWORD
从“一板成功”到硬件故障排查
第1章：硬件故障排查的方法论
1.1、硬件故障排查的“三板斧”
1.2、现象整理
1.3、表象与本质的距离
1.4、知行合一
第2章：时钟电路的设计与应用
2.1、案例6——锁相环（PLL）输出时钟频率偏差超出额定值
2.2、案例7——时钟锁定速度优化导致系统误码率提升
2.3、案例8——交流耦合电容误用致芯片输入时钟异常
2.4、案例9——板卡适配的故障，谈共同时钟的时序约束
第3章：电源电路设计与应用
3.1、案例10——LDO输出滤波电容ESR配置不当致电源输出振荡
3.2、案例11——模块输入引脚的驱动电流与电源使能控制信号
3.3、案例12——控制逻辑I/O配置与不同电源域漏电
3.4、案例13——DC-DC激活逻辑延迟导致系统上电时序错误
第4章：复位信号与电路模块的初始化配置
4.1、案例14——反相器选型与应用不当导致系统频繁复位
4.2、案例15——JTAG_RST配置不当导致芯片进入测试模式
4.3、案例16——约束引脚配置错误导致系统无法启动加载
第5章：MOS管与逻辑器件应用
5.1、案例17——电容放电式引信发火药剂配制误差
5.2、双向电平转换芯片误用导致控制逻辑错误
第6章：总线与高速信号
6.1、案例1回顾——PCI透明桥时钟延迟差异导致下游设备异常
6.2、案例18——两级Buffer与PCIe总线时钟噪声
6.3、案例19——BMC对服务器系统“一键收集日志”引发告警
6.4、案例20——网络变压器供电连接错误导致网络故障
6.5、案例21——高速总线交流耦合电容值过小致总线传输误码率升高
6.6、案例22——射频连接器的串扰导致链路信号误码
第7章：测试计量与系统
7.1、案例23——采样策略与存储器深度关联导致信号异常滤波
7.2、案例24——半实物仿真旋转变压器的输出角度抖动故障
第8章：故障排查与硬件设计
8.1、拙战论
8.2、高质量的设计动作
后记
从彷徨到呐喊