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集成电路测试技术

作者：武乾文

出版社：电子工业

出版年：2022年10月

ISBN：9787121443510

所属分类：成功励志

书刊介绍

《集成电路测试技术》内容简介

本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章，主要内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。书后还附有详细的测试实验指导书，可有效指导读者开展相关测试程序开发实验。
本书可供集成电路测试等相关领域的科研人员和工程技术人员阅读使用，也可以作为高等院校电子科学与技术、微电子工程等相关专业的教学用书。
武乾文，中国电子科技集团公司第五十八研究所副总工程师，电子科技大学、南京信息工程大学兼职教授，硕士研究生导师，无锡市学术带头人，DSP、CPU集成电路测试专家。曾获国家科技进步二等奖、国防科技进步二等奖、江苏省科技进步一等奖等多项，发表论文20多篇。作为微电子预研项目负责人，突破了多项高端集成电路测试技术，建立了国内品种较全、水平较高的测试程序库。作为科技部仪器重大专项子课题负责人，研制成功了1024通道、1Gbit/s大规模集成电路测试系统，打破了国外垄断。与多所高校共建了集成电路测试联合实验室，解决了集成电路人才紧缺的难题。

作品目录

“集成电路系列丛书”编委会
编委会秘书处
出版委员会
“集成电路系列丛书·集成电路封装测试”编委会
编委会秘书处
“集成电路系列丛书”主编序言
前言
作者简介
第1章：集成电路测试概述
1.1、引言
1.2、集成电路测试的主要环节
1.3、集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势
1.4、集成电路测试面临的挑战
第2章：数字集成电路测试技术
2.1、数字集成电路测试技术概述
2.2、通用数字电路与ASIC测试技术
2.3、通用数字电路常见可测试性设计技术
2.4、存储器测试技术
2.5、数字信号处理器测试技术
2.6、微处理器测试技术
2.7、可编程器件测试技术
第3章：模拟集成电路测试技术
3.1、模拟集成电路测试技术概述
3.2、通用模拟电路测试技术
3.3、放大器测试技术
3.4、转换电路测试技术
3.5、模拟开关测试技术
3.6、DC-DC变换器测试技术
第4章：数模混合集成电路测试技术
4.1、数模混合集成电路测试技术概述
4.2、基于DSP的测试技术
4.3、模数（A/D）转换器测试技术
4.4、数模（D/A）转换器测试技术
第5章：射频电路测试技术
5.1、射频电路测试技术概述
5.2、射频前置放大器测试技术
5.3、射频混频器测试技术
5.4、射频滤波器测试技术
5.5、射频功率放大器测试技术
第6章：SoC及其他典型电路测试技术
6.1、SoC测试技术概述
6.2、SoC测试主要难点
6.3、SoC测试关键技术
6.4、其他典型器件测试技术概述
第7章：集成电路设计与测试的链接技术
7.1、集成电路设计与测试的链接技术概述
7.2、设计与测试链接面临的问题
7.3、可测试性设计技术
7.4、设计验证技术
7.5、常用测试向量格式及转换工具
第8章：测试接口板设计技术
8.1、测试接口板概述
8.2、测试接口板的设计与制造
8.3、测试夹具的选择
8.4、信号完整性设计技术
8.5、电源完整性设计
8.6、测试接口板的可靠性设计
第9章：集成电路测试设备
9.1、数字集成电路测试系统
9.2、模拟集成电路测试系统
9.3、数模混合集成电路测试系统
9.4、存储器测试系统
9.5、基于标准总线的集成电路测试系统
9.6、可靠性相关测试设备
第10章：智能测试
10.1、测试大数据
10.2、测试数据分析方法及工具软件
10.3、云测试
10.4、未来的测试
附录A
集成电路测试实验
A.1、实验目的
A.2、实验内容及步骤
A.3、测试平台介绍
A.4、待测芯片介绍及测试项提取
A.5、测试程序开发
参考文献