材料评价的高分辨电子显微方法 内容简介

本书介绍了高分辨电子显微方法的原理，叙述了高分辨电子显微像的种类及其具体的拍摄方法；讨论了*佳条件拍摄的注意事项以及试样厚度和离焦量等对像衬度的影响。

材料评价的高分辨电子显微方法 本书特色

进藤大辅和平贺贤二编著的《材料评价的高分辨电子显微方法》的第1章叙述了电子显微镜的基本原理和高分辨显微像的成像过程。解释了高分辨电子显微像的衬度，以及它是怎样与原子排列相对应的，电子显微镜的分辨率和高分辨电子显微像计算机模拟的具体过程等。第2章，叙述了高分辨电子显微像的种类及其具体的拍摄方法。讨论了*佳条件拍摄的注意事项以及试样厚度和离焦量等对像的衬度的影响。第3章给出了大量的高分辨电子显微像的具体实例，叙述的重点是各种晶格缺陷和每种材料的特征、观察它们的方法和对显微像的解释。除了从高分辨电子显微像获得材料特征信息的各种解说外，还适当地说明了材料的工艺背景。第4章作为高分辨电子显微方法的相关技术，叙述了从高分辨电子显微像引出结构信息的图像处理，以及采用新的记录载体——成像板进行的*新的定量解析。另外，对结构解析中作为高分辨电子显微方法的补充实验手段——电子衍射方法和弱束法也进行了解说。在此章的*后，比较了用于高分辨电子显微方法的各种试样制备技术，叙述了它们的特点。附录，除物理常数外，作为正文的补充，给出了衍射花样的实例、傅里叶变换的性质、波函数符号的处理以及部分相干性等。

材料评价的高分辨电子显微方法 目录

第1章 高分辨电子显微方法的基础
1.1 透射电子显微镜的原理
1.2 电子散射和傅里叶变换
1.3 高分辨电子显微像的形成
1.3.1 薄膜试样的高分辨电子显微像
1.3.2 电子显微镜的分辨率
1.3.3 厚度样的高分辨电子显微像
1.4 高分辨电子显微像的计算机模拟
1.4.1 程序的构成和输入的参数
1.4.2 在考虑晶格缺陷和吸收时的计算模拟
1.4.3 程序的检查
参考文献
第2章 高分辨电子显微方法的实验
2.1 高分辨电子显微像的种类
2.1.1 晶格条纹
2.1.2 一维结构像
2.1.3 二维晶格像
2.1.4 二维结构像
2.1.5 特殊的像
2.2 高分辨电子显微镜观察
2.2.1 像观察前的注意事项
2.2.2 像观察前的注意事项
2.2.3 拍摄像的选择
2.2.4 像解释时的注意事项
2.2.5 高分辨电子显微镜观察的练习
参考文献
第3章 高分辨电子显微方法的应用
3.1 晶格缺陷、表面和界面的高分
3.1.1 位错
3.1.2 晶界和相界面
3.1.3 表面
3.1.4 其他结构缺陷
3.2 各种物质的高分辨电子显微像
3.2.1 陶瓷
3.2.2 超导氧化物
3.2.3 有序合金
3.2.4 准晶
参考文献
第4章 高分辨电子显微方法的周边技术
4.1 图像处理
4.1.1 高分辨电子显微像的输入和输出
4.1.2 高分辨电子显微像图像处理的实践
4.2 定量解析
4.2.1 新记录系统的原理
4.2.2 新的图像记录系统的特性
4.2.3 用残差指数解析高分辨电子显微像
4.3 电子衍射方法
4.3.1 电子衍射方法的基础
4.3.2 电子衍射方法的实际操作
4.3.3 各种结构及其电子衍射花样的特征
4.4 弱束方法
4.4.1 弱束方法的原理和特点
4.4.2 弱束像的观察程序
4.5 电子显微镜性能的评价
4.5.1 电子显微镜基本参数的评价
4.5.2 电子显微镜分辨率的评价
4.6 试样制备方法
4.6.1 粉碎方法
4.6.2 电解减薄方法
4.6.3 化学减薄方法
4.6.4 超薄切片方法
4.6.5 离子减薄片方法
4.6.6 聚焦离子束方法
4.6.7 真空蒸涂方法
参考文献
附录
附录1 物理常数、换算系数和电子波长等
附录2 晶体几何学关系
……
参考文献
索引